题名:
仪表系统的闭环测试方法   Yi Biao Ji Tong De Bi Huan Ce Shi Fang Fa / 王永初编 ,
ISBN:
7- 价格: CNY0.95
语种:
chi
载体形态:
235页
出版发行:
出版地: 成都 出版社: 四川科学技术出版社 出版日期: 1984
中图分类法:
TP216 版次: 4
主要责任者:
王永初 编
索书号:
TP216/3