题名:
X射线显微分析仪   X She Xian Xian Wei Fen Xi Yi / 内山郁编 ,
ISBN:
7- 价格: CNY1.05
语种:
chi
载体形态:
249页 32开
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 国防工业出版社 出版日期: 1982
中图分类法:
TN16 版次: 4
主要团体责任者:
内山郁
索书号:
TN16/3