题名:	半导体器件可靠性 Ban Dao Ti Qi Jian Ke Kao Xing / 本书编写组编 ,
ISBN:	7- 价格： CNY0.94.
语种:	chi
载体形态:	371页 32开
出版发行:	出版地：北京出版社：国防工业出版社出版日期： 1978
中图分类法:	TN303 版次： 4
主要责任者:	本书编写组编
索书号:	TN303/4