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题名:
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半导体器件参数快速综合测试仪 Ban Dao Ti Qi Jian Shu Kuai Su Ce Shi Yi / 罗静成著 , |
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ISBN:
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价格： ￥1.05 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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369页 有摺图 19cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 人民出版社 出版日期： 1980 |
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主题词:
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半导体技术-参数测试-测试仪表 |
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主题词:
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参数测试-半导体技术-测试仪表 |
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主题词:
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测试仪表-参数测试-半导体技术 |
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中图分类法:
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TN307 版次： 3 |
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主要责任者:
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罗静成 著 |
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索书号:
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TN307/2 |