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题名:
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半导体器件可靠性与失效分析 Ban Dao Ti Qi Jian Ke Kao Xing Yu Shi Xiao Fen Xi / 卢其庆编 , |
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ISBN:
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7- 价格： CNY1.70 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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278页 32开 |
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出版发行:
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出版地： 出版社： 江苏科学技术出版社 出版日期： 1981 |
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中图分类法:
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TN303 版次： 4 |
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主要责任者:
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卢其庆 编 |
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索书号:
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TN303/8 |