题名:
半导体测试技术
Ban Dao Ti Ce Shi Ji / 孙以才编 ,
ISBN:
7- 价格： CNY4.85
语种:
chi
载体形态:
499页 32开
出版发行:
出版地： 北京 出版社：
冶金工业出版社
出版日期： 1984
中图分类法:
TN304.0 版次： 4
主要责任者:
孙以才
编
索书号:
TN304.0/2