题名:
微特电机测试技术
Wei Te Dian Ji Ce Shi Ji Shu / 陈忠, 许上明编著 ,
ISBN:
价格： ￥1.25
语种:
chi
载体形态:
201页 19厘米
出版发行:
出版地： 上海 出版社：
上海科学技术出版社
出版日期： 1986.3
主题词:
微电机
测试
中图分类法:
TM380.6 版次： 2
中图分类法:
TM38 版次： 3
主要责任者:
陈忠
编著
主要责任者:
许上明
编著
索书号:
TM38/1