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题名:
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分析晶体缺陷的电子显微技术 Fen Xi Jing Ti Que Xian De Dian Zi Xian Wei Ji Shu / 洛雷托等编著 , |
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ISBN:
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7- 价格： CNY0.46 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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111页 32开 |
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出版发行:
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出版地： 出版社： 上海科学技术出版社 出版日期： |
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中图分类法:
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O77 版次： 4 |
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主要责任者:
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洛雷托等 编著 |
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索书号:
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O77/1 |