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题名:
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无损探伤
Wu Sun Tan Shang
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云庆华等编著
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ISBN:
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价格：
￥5.20
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语种:
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chi
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载体形态:
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529页
图表
26厘米
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
劳动出版社
出版日期：
1983.1
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内容提要:
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介绍射线探伤原理、射线探伤设备、射线照相方法和底片评定; 超声探伤原理、仪器、探头、试块及超声探伤方法等。
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主题词:
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无损检验
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中图分类法:
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TG115.28
版次：
2
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中图分类法:
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TG115.2
版次：
4
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主要责任者:
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云庆华
编著
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主要责任者:
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张泽丰
编著
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主要责任者:
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王世勋
编著
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索书号:
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TG115.2/25
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