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题名:
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X射线探伤检验技术
X She Xian Tan Shang Jian Yan Ji Shu
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李瑞棠编
,
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ISBN:
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价格：
￥1.00
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语种:
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chi
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载体形态:
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176页
表格
19厘米
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
烃加工出版社
出版日期：
1985.2
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内容提要:
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内容包括X射线的基本知识、暗室处理、底片的评级方法和保管等。
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主题词:
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X射线探测
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中图分类法:
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TG115.28
版次：
2
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中图分类法:
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TH878
版次：
3
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主要责任者:
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李瑞棠
编
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索书号:
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TH878/2
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