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题名:
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嵌入式系统中的辐射效应 qian ru shi xi tong zhong de fu she xiao ying / (法)拉乌尔·委拉兹克(Raoul Velazco)，(法)帕斯卡·弗埃雷特(Pascal Fouillat)，(巴西)里卡多·赖斯(Ricardo Reis)等著 , 黄云[等]译 |
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ISBN:
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978-7-111-58286-1 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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11,234页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2018 |
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内容提要:
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本书从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面介绍了嵌入式系统中的辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。 |
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主题词:
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微型计算机 系统设计 |
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中图分类法:
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TP360.21 版次： 5 |
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主要责任者:
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委拉兹克 wei la zi ke 著 |
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主要责任者:
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弗埃雷特 fu ai lei te 著 |
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主要责任者:
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赖斯 lai si 著 |
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次要责任者:
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黄云 huang yun 译 |
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索书号:
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TP360.21/1 |