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题名:
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纳米级集成电路系统电源完整性分析 na mi ji ji cheng dian lu xi tong dian yuan wan zheng xing fen xi / (日)桥本正德(MasanoriHashimoto)等著 , |
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ISBN:
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978-7-111-56987-9 价格： CNY125.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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343页 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2017.10 |
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内容提要:
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进入21世纪以来，集成电路制造工艺的发展日新月异，目前已经进入到了前所未有的纳米级阶段。电源完整性作为系统级芯片设计的重要课题，直接影响到集成电路的可靠性、性能以及功耗。因此，本书作者以系统级电源完整性为切入点，深入探讨了电源完整性的影响、时钟产生及分布、输入/输出单元中的电源完整性设计、电源完整性建模、温度效应以及低功耗电源完整性设计等方面的问题，并以IBM POWER7+处理器芯片作为实例进行分析，最后针对新型碳纳米管互连元件在电源完整性中的应用做了简要讨论。 |
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主题词:
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集成电路 电源电路 |
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中图分类法:
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TN710.02 版次： 5 |
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主要责任者:
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桥本正德(MasanoriHashimoto) qiao ben zheng de ( M a s a n o r i H a s h i m o t o ) deng 著 |
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索书号:
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TN710.02/2 |