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题名:
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大气中子在先进存储器件中引起的软错误 da qi zhong zi zai xian jin cun chu qi jian zhong yin qi de ruan cuo wu / (日)中村刚史[等]著 , 陈伟[等]译 |
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ISBN:
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978-7-118-10284-0 价格： CNY89.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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15,219页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本书详细介绍了宇宙射线产生的大气层中子辐射环境、几种典型的中子能谱和剂量探测器、中子单粒子翻转截面的中子实验方法、中子单粒子效应模拟的蒙特卡罗模型、国际上新的一些实验标准规范以及加固方法。 |
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主题词:
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中子 研究 |
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中图分类法:
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O572.34 版次： 5 |
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主要责任者:
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中村刚史 zhong cun gang shi 著 |
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次要责任者:
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陈伟 chen wei 译 |
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索书号:
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O572.34/1 |