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题名:
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半导体制造中的质量可靠性与创新 [ 专著] ban dao ti zhi zao zhong de zhi liang ke kao xing yu chuang xin / 简维廷，(美)郭位，张启华编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-28246-1 价格： CNY98.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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271页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2016 |
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内容提要:
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本书共4章。第1章简要介绍了中国集成电路产业目前发展的状况及趋势，以及集成电路制造过程中，质量与可靠性管理工作主要涵盖的内容。第2-4章，分别针对质量、可靠性和失效分析（Failure Analysis，FA）三大课题，通过大量的实用案例，以及作者在管理和工程上积累的众多创新经验和创新理念，阐述了如何在透彻了解理论知识的基础上，将这些知识应用于实际的生产线和产品的质量与可靠性管理。 |
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主题词:
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半导体工艺 质量管理 |
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中图分类法:
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TN305 版次： 5 |
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主要责任者:
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简维廷 jian wei ting 编著 |
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主要责任者:
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郭位 guo wei 编著 |
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主要责任者:
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张启华 zhang qi hua 编著 |
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索书号:
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TN305/6 |