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题名:
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实用X射线光谱分析 shi yong X she xian guang pu fen xi / 高新华[等]编著 , |
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ISBN:
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978-7-122-27959-0 价格： CNY128.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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365页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2017 |
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内容提要:
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本书共分十七章，系统介绍X射线的物理基础、基本性质、激发、色散、探测与测量，波长色散与能量色散光谱仪，基体效应、光谱背景和谱线重叠，样品制备，定性与半定量分析，实验校正法、数学校正法定量分析，薄膜和镀层厚度分析、应用实例及分析误差与不确定度等内容。附录列举了X射线荧光光谱分析常用的物理常数、相关数据等。 |
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主题词:
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X射线荧光光谱法 光谱分析 |
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中图分类法:
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O657.34 版次： 5 |
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主要责任者:
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高新华 gao xin hua 编著 |
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索书号:
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O657.34/1 |