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题名:
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可靠性物理与工程 [ 专著] ke kao xing wu li yu gong cheng / (美)J.W. 麦克弗森著 , 秦飞[等]译 |
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ISBN:
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978-7-03-038824-7 价格： CNY80.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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245页 图表 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2013 |
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内容提要:
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本书以材料/器件退化为主线，系统总结了集成电路与电子器件、机械零部件等的典型失效模式，并着重阐述失效的物理机理，提出具有普适性的、简单实用的失效时间预测模型。本书首先讨论了描述材料/器件性能退化的模型、失效时间的定义和失效时间模型；然后讨论了失效时间的统计方法和失效率模型，用于加速测试的斜坡测试法和加速因子模型；重点讨论了集成电路与器件、机械零部件等的典型失效机理及其失效时间模型；最后讨论了动应力转化为有效静应力的方法和器件可靠性设计的改进方法。 |
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主题词:
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失效物理 研究 |
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中图分类法:
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TB114.2 版次： 5 |
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其它题名:
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失效时间模型 |
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主要责任者:
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麦克弗森 mai ke fu sen 著 |
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次要责任者:
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秦飞 qin fei 译 |
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索书号:
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TB114.2/5 |